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工業CT檢測技術介紹

更新時間:2018-07-26點擊次數:3981
  
  
  CT是“計算機X線斷層攝影機”或“計算機X線斷層攝影術”英文(ComputedTomography;)的簡稱CT,是從1895年倫琴發現X線以來在X線診斷方面的大突破,是近代飛速發展的電子計算機控制技術和X線檢查攝影技術相結合的產物。CT由英國物理學家hounsfield在1971年研制成功,先用于顱腦疾病診斷,后于1976年又擴大到全身檢查,是X線在放射學中的一大革命。
  
  工業CT檢測技術是以X射線和γ射線作為輻射源的工業CT,其工作原理就是射線檢測的原理。計算機層析成像技術使用不同的能量波作為輻射源,其工作原理也有所不同。在工業無損檢測中廣泛應用的是透射層析成像技術(ICT),使用的輻射源多為x射線或y射線,包括低能X射線或由加速器產生的高能X射線,常用的γ射線同位素則有192Ir、137Cs和60Co等。
  
  主要特點:
  
  緊湊型450kV計算機斷層掃描(CT)統計生產過程控制系統;
  
  高精度的三維測量和非破壞性檢測任務;
  
  顯著減少所需的操作時間,通過一鍵式CT,點擊按鈕及完成檢測和測量的CT功能;
  
  高度自動化操控以增加效率;
  
  緊湊式設計實現對直徑達500毫米×長度1000毫米的大尺寸樣品進行掃描;
  
  花崗巖基座操控平臺,重復精度高,更為的3D測量;
  
  穩定可靠,占地面積小,為產線環境而設計;
  
  操作快速與符合人體工程學的吊裝工具,樣品重量可達50公斤(110磅);
  
  維護率低,使用成本少。
  
  
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